1.1. 參(can)考精(jing)度
1.1.1. 數字、智(zhi)能:±0.1%校(xiao)驗量程
1.1.2. 模(mo)拟、線性:±0.2%校驗量(liang)程
1.2. 穩定性(xing)
1.2.1. 數字(zi)、智能:6個月,±0.1%URL
1.2.2. 模拟(ni)、線性:6個月(yue),±0.2%URL
1.3. 環境(jing)溫度(du)影(ying)響
1.3.1. 數字(zi)、智能(neng)
零(ling)點(dian)誤差(cha):±0.2%URL/56℃
總體(ti)誤差(cha):±(0.2%URL+0.18%校驗(yan)量程)/56℃
1.3.2.模拟(ni)、線性(xing)
零點(dian)誤(wu)差(cha):±0.5%URL/56℃
總體(ti)誤差(cha):±(0.5%URL+0.5%校(xiao)驗(yan)量程(cheng))/56℃
1.4. 靜壓(ya)影響
1.4.1.零點(dian):
對于(yu)量程(cheng)4至8,在13790kPa下爲±0.2%URL;其它量程(cheng)爲±0.25%URL。零點誤(wu)差可(ke)在線(xian)通過重新(xin)調零來修(xiu)正。
1.4.2.量(liang)程:
可(ke)修正至±0.25%輸(shu)出讀數/6895kPa,對(dui)于量(liang)程3,可(ke)修正至±0.5%輸(shu)出讀數(shu)/6895kPa
1.5. 振動影響
在(zai)任(ren)意(yi)軸向(xiang)上,200Hz下(xia)振動影響(xiang)爲±0.05%URL/g
1.6. 電(dian)源(yuan)影響
小(xiao)于±0.005%輸(shu)出量(liang)程/伏特。
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1.7. 負(fu)載影(ying)響:
沒(mei)有負(fu)載(zai)影響,除(chu)非電(dian)源(yuan)電(dian)壓有(you)變化。
1.8. 電(dian)磁(ci)幹擾/射頻(pin)幹擾(rao)(EMI/RFI影響(xiang))
由20至1000MHz,場強(qiang)達至(zhi)30V/M時,
輸(shu)出漂(piao)移小(xiao)于±0.1%量程(cheng)。
1.9. 安裝位置影(ying)響
零點漂(piao)移至多(duo)爲(wei)±0.25kPa。所有(you)的零點漂(piao)移都(dou)可修正掉(diao);對量(liang)程無(wu)影響(xiang)。
2. 功能(neng)規格(ge)
2.1. 測量範圍:差壓(ya):0-1.3~6890KPa
靜(jing)壓:4、10、14MPa
2.2. 零點(dian)與量(liang)程(cheng)
2.2.1.數(shu)字、智(zhi)能:
可(ke)用(yong)本機量(liang)程和(he)零點(dian)按鈕調整(zheng),或用HART手操(cao)器遠(yuan)程調整。
2.2.2.模(mo)拟、線(xian)性(xing):
量程和(he)零點(dian)連(lian)續(xu)可調。
2.3. 零點(dian)正、負遷移(yi)
零點負遷(qian)移時,量程(cheng)下限(xian)必須(xu)大于或等(deng)于-URL;零點正(zheng)遷移(yi)時,量(liang)程上限必(bi)須小(xiao)于或等于+URL。校驗(yan)量程(cheng)大于(yu)或等(deng)于最(zui)小(xiao)量程。
2.4. 輸(shu)出
數字、智(zhi)能:
4~20mA DC,用戶可(ke)選擇線性(xing)或平方根輸出(chu),數字(zi)過程(cheng)變量(liang)疊加在4~20mA DC信(xin)号上,可供(gong)采用HART協議(yi)的上位(wei)機(ji)使用(yong)。
模拟(ni)、線(xian)性:
4~20mA DC,與過(guo)程壓(ya)力成(cheng)線性(xing)。
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