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SKD55棒式防(fang)腐(fu)雷達(da)物位計
SKD55棒(bang)式防腐雷(lei)達物(wu)位計(ji)測量(liang)最大(da)距離可(ke)達(da)15米。天(tian)線被(bei)進一步優(you)化處理(li)，新(xin)型的快速(su)的微處理(li)器可以進(jin)行更高速率(lü)的信号(hao)分析處理(li)，使得(de)儀表(biao)可(ke)以(yi)用于(yu)如：反應(ying)釜或固體料(liao)倉(cang)非常複(fu)雜的(de)測(ce)量條件。
原理(li)
棒式防腐(fu)雷達物位(wei)計天線發(fa)射較窄的(de)微波脈(mo)沖(chong)，經天(tian)線向下(xia)傳輸，微(wei)波接觸到被測介質(zhi)表面(mian)後被(bei)反射回(hui)來(lai)，再次(ci)被天(tian)線系(xi)統接(jie)收并将其(qi)傳輸(shu)給電(dian)子線路部(bu)分自動轉(zhuan)換成物位信号(hao)。（因爲(wei)微波傳播(bo)速度(du)極快(kuai)，電磁波到(dao)達目(mu)标(biao)并經反(fan)射返(fan)回接(jie)收器(qi)這一來回(hui)所用(yong)的時(shi)間幾乎是(shi)瞬間的）
注(zhu)：使用(yong)棒(bang)式防腐(fu)雷達物(wu)位計時，務必(bi)保(bao)證最高(gao)料位(wei)不(bu)能進入(ru)測量盲區（圖中(zhong)D所示區(qu)域）。
特點(dian)
- 棒式(shi)防腐(fu)雷達(da)物位(wei)計采用了高達(da)26GHz的(de)發射頻(pin)率,因而(er)具(ju)有:
- 非接觸(chu)雷達(da),無磨(mo)損,無污染(ran)。
- 天線尺寸(cun)小，便(bian)于安(an)裝
- 波(bo)長更短，對在傾斜的固體(ti)表面(mian)有(you)更好的反射(she)。
- 測(ce)量盲區(qu)更小，對于(yu)小罐(guan)測量也(ye)會(hui)取得(de)良好(hao)的(de)效果。
- 波(bo)速角(jiao)小，能(neng)量集(ji)中，增(zeng)強(qiang)了(le)回波(bo)能力(li)的(de)同時又(you)有利于(yu)避開幹擾物(wu)。
- 幾(ji)乎不受(shou)腐蝕(shi)、泡沫(mo)影響(xiang)。
- 幾乎(hu)不受大氣(qi)中水(shui)蒸(zheng)氣(qi)、溫度(du)和壓(ya)力變化影(ying)響。
- 嚴(yan)重粉(fen)塵環(huan)境不(bu)會影響電(dian)磁波工作。
- 高信(xin)噪比(bi)，即使(shi)在波(bo)動的情況(kuang)下也能獲(huo)得(de)好的性(xing)能。
- 高(gao)頻率，是測量固(gu)體和(he)低介(jie)電常(chang)數介(jie)質的(de)選擇(ze)。
1. SKD55棒(bang)式(shi)防腐(fu)雷達物(wu)位計參(can)數
應用：适合強(qiang)腐蝕(shi)的液體
測量範(fan)圍(wei)：15米(mi)
過程(cheng)連接(jie)：螺(luo)紋(wen)、法蘭(lan)
介質(zhi)溫度：-40~130℃
過程(cheng)壓力(li):-0.1~0.3Mpa
精度:±5mm
頻率(lü)範圍(wei):26GHz
防爆(bao)等級(ji):Exd IIBT4 Gb
防護等級:IP67
信号輸出(chu):4~20mA/HART(兩(liang)線/四線(xian))RS485/Modbus
2. SKD55棒式防腐雷達(da)物位(wei)計(ji)外型尺(chi)寸圖
3. SKD55棒式防腐(fu)雷達物位計安(an)裝
| 單元 | 參數 |
防爆 |
P标準(zhun)型(非(fei)防爆(bao)) |
天(tian)線形(xing)式/材料 |
F密封喇(la)叭/PTFE(-40~130℃) |
過程(cheng)連(lian)接/材(cai)料 |
G 螺(luo)紋G1?A |
容器接(jie)管長度 |
A 接管100mm |
密封/過程溫(wen)度 |
V 普(pu)通密(mi)封/(-40~150)℃ |
電(dian)子單(dan)元 |
3 (4~20)mA/24VDC/HART兩(liang)線制(zhi) |
外殼(ke)/防護(hu)等級(ji) |
L 鋁/IP67 |
電纜(lan)進線(xian) |
M M20*1.5 |
特(te)殊定制(zhi) |
Y 特殊定制(zhi) |
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